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SuperView W1光学3D表面轮廓仪SuperView W1光学3D表面轮廓仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、国防军工、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等,提供依据ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。
因此用到光学三维测量事业单位主要有各高校比如材料学院、机械学院、光电学院等等,还有就是中科院下面各科研院所(材料所、物理所、光机所等等)以及航空航天、船舶、兵器石油化工能源等等央企下属各研究所,在企业单位就是各硅晶片加工企业、微纳材料加工企业、超精密机械加工企业、光学元器件企业以及3C行业的玻璃面板、手机镜头以及安防和车载系统的各类型镜头等等。
参考知识1 光学三维传感是信息光学中一个重要的研究领域,采用结构照明的三维传感方法,包括位相测量轮廓术(Phase Measurement Profilometry,简称PMP)、傅立叶变换轮廓术(Fourier Transform Profilometry,简称FTP)、调制度测量轮廓术(Modulation Measurement Profilometry,简称MMP)等,近年来受到了极大的重视.调制度测量轮廓术是一种垂直测量方法,物体的高度被编码在物体表面的调制度信息中,可以测量有高度剧烈变化和空间不连续表面的复杂物体,避免了基于三角测量原理的三维传感技术遇到的阴影、遮挡等难题.根据调制度获取方式的不同,调制度测量轮廓术可以本回答被提问者采纳